为了推动我国制造业的发展，提高我国量具量仪的应用技术水平，将于2010年7月22日在杭州召开“全国量具量仪应用技术”研讨会，届时将邀请制造企业、量具量仪生产企业相关代表及有多年量具量仪方面工作经验的高级工程师、专家教授等，就量具量仪的管理、规划、应用技术、发展趋势等方面内容及案例展开深入研讨和交流，欢迎各位企业代表踊跃报名参加。现将会议相关事项通知如下：

一、会议目的：

掌握量具量仪的测量技术

掌握量具计量检定规程

掌握量具量仪的使用技巧、维护及选用

了解测量技术与测量工作的关系

探讨国际国内量具量仪技术发展趋势

二、会议时间地点：

2010年7月22日--23日（21日全天报到）        杭州

三、参会对象：

制造企业、量具量仪生产企业等相关管理、技术人员。

四、会议主要内容：

1.几何量精密测量技术及仪器的发展

①精密测量技术发展的趋势；

②精密量具量仪近年发展趋势；

③先进精密测量技术和量具量仪

在线（工位）机载（主动）测量技术与仪器；大尺寸复杂形面测量技术与仪器；

纳米高精度位移/形面测量技术与传感器；测量软件技术；

测量技术和信息技术及先进制造技术的集成和融合。

2.测量技术和量具量仪

①数字化量具   适应工况及人性化需求，新型防尘防水数显卡尺--IP67。

②精密探测系统和位移传感器   

新型触发式测头；新一代扫描式测头和探测系统；

多种非接触式扫描测头；新型精密位移传感器。

③三坐标系统精度的激光测量技术与仪器 

美国API公司的5/6维XD激光测量系统；英国Renisahaw的XL-80激光干涉仪测量系统；Renishaw高分辨率RLE光纤激光尺；可实现高速微细精密单/双轴测量和反馈；

美国光动LICS-100激光测量系统¬——数控机床三维空间位置误差测量新技术；

基于体对角线的激光矢量测量技术。